隨著電子元器件可靠性水平的不斷提高，采用常規(guī)的正常應(yīng)力下的長期壽命試驗(yàn)實(shí)在太耗費(fèi)人力、物力和時間了，有時甚至是不可能的。人們經(jīng)過長期的實(shí)踐，提出一種加速試驗(yàn)的方法來解決這一矛盾。

所謂加速壽命試驗(yàn)就是用加大應(yīng)力的方法促使樣品在短時期內(nèi)失效,從而預(yù)測電子 產(chǎn)品在正常儲存條件或工作條件下的可靠性。例如將器件置于比較髙的熱、電等應(yīng)力條 件下使之加速失效，并從中求出加速系數(shù)。這樣就可以在較短時間內(nèi)通過少量樣品的髙 應(yīng)力試驗(yàn)，推算出產(chǎn)品在正常應(yīng)力下的可靠性水平,以供用戶設(shè)計(jì)時參考,或作為工藝對 比及合理制定工藝篩選條件和例行試驗(yàn)規(guī)范的依據(jù)。同時，結(jié)合失效分析,還可以隨時了 解造成產(chǎn)品不可靠的主要因素(主要失效模式和失效機(jī)理），并迅速反饋到有關(guān)設(shè)計(jì)或制 造部門加以改進(jìn)及糾正。因此，加速壽命試驗(yàn)不僅節(jié)省了人力、物力和時間,并且結(jié)合失 效分析技術(shù)已發(fā)展成為控制、提髙半導(dǎo)體器件等電子元器件可靠性的一種行之有效的好 辦法，所以國內(nèi)外普遍采用。